Instruments　


 和周波発生分光装置(Sum-Frequency Generation Spectrometer)
構成；
Diode pumped Nd:YAG （10 Hz, 25 ps, 130 mJ）, 赤外用光パラメトリック発振／増幅／差周波発生器,　可視光用光パラメトリック発振／増幅／二倍波発生器, 前置分光器, 分光器, 光電子増倍管, ゲート積分器, デジタル遅延パルス発生器, ステージコントローラー, 制御用PC（Win 10）

用途；
和周波分光測定、二重共鳴和周波測定、時間分解和周波測定

共焦点ラマン顕微鏡 (Confocal Raman Microscpope)　(Nanofinder　FLEX, Tokyo Instruments）

532 nm DPSS laser, 3D piezo scanner, Imaging spectrometer, CCD
Resolution; X-Y direction 〜300 nm, Z direction＜1μm　(x100 objective)
用途； Raman measurements, Raman imaging

フーリエ変換赤外分光光度計　(Fourier-transform IR spetctrometer, FT/IR-6600, JASCO）

構成；ATR（1回反射）測定アタッチメント, IRAS測定アタッチメント
用途；赤外吸収スペクトル測定

デュヌイ表面張力計　(du Nouy surface tension meter, DRT-1, Surfgauge Instruments)

構成；デュヌイ法張力計, シグマ光機自動ステージ
用途；液体の表面張力測定

自動接触角計　（Contact angle meter, SImage AUTO100, Excimer Inc.)

用途；静的接触角測定
オゾン洗浄器
(UV-Ozone Cleaner, Filgen UV253E)

用途；ガラス、樹脂基板などの 表面洗浄、
親水化処理、ポリマーなどの表面改質
プラズマ洗浄器
(Parrick Plasma Cleaner PDC-32G)

用途；ガラス、樹脂基板などの 表面洗浄、
親水化処理、ポリマーなどの表面改質
小型卓上引張圧縮試験機
　（MCT-2150 A&D.)

用途；引張せん断強度、摩擦力の測定
可視紫外分光光度計（U-3000, Hitachi）
ブレードコートシステム　（自作)

有機半導体薄膜の作成
薄膜光学測定システム（SterllarNet Inc.)

有機半導体薄膜の膜厚・光学測定作成
３Dプリンタ　ダヴィンチ　1.0 pro　
(3D printer, XYZ Printing)
帯電ガン（プラス極性、マイナス極性）

窒素ガス供給装置, コンプレッサー



・真空蒸着装置
・アッベ屈折計（アタゴ　DR-A1）
・超純水製造装置（ミリポア、 Simplicity UV）
・定温乾燥器（東京理化、アズワン）
・顕微鏡冷却加熱装置（ジャパンハイテック製　LK-600PM）
・スピンコーター

・ソースメジャーユニット（Agilent, B2901A, B2901B, B2902A）
・レーザー変位計（キーエンス）
・デジタルストレージオシロスコープ
・デジタル遅延パルス発生器（SRS製　DG535、DG645）
・He-Neレーザー（シグマ光機　05-LHP-213, 1 mW）