Instruments 



和周波発生分光装置(Sum-Frequency Generation Spectrometer)
構成;
Diode pumped Nd:YAG (PL2251C-10, 10 Hz, 25 ps, 130 mJ), 赤外用光パラメトリック発振/増幅/差周波発生器 (PG401VIR/DFG), 可視光用光パラメトリック発振/増幅/二倍波発生器 (PG411), 前置分光器 (PF-200, Bunkoukeiki), 分光器 (MS200i, SOL Instruments), 光電子増倍管 (R649, Hamamatsu Photonics), ゲート積分器, デジタル遅延パルス発生器, ステージコントローラー, 制御用PC(Win 10)

用途;
振動和周波分光測定,二重共鳴振動和周波測定,SFG二次元マッピング測定,時間分解和周波測定,電子和周波分光測定


和周波発生分光装置(Vibrational Sum-Frequency Generation Spectrometer)
構成;
Dye pumped Nd:YAG (PL-2143B, 10 Hz, 25 ps, 50 mJ), 赤外用光パラメトリック発振/増幅/差周波発生器 (PG401VIR/DFG), 簡易分光器, 光電子増倍管 (R649, Hamamatsu Photonics), ゲート積分器, 制御用PC(Win 11)

用途;
和周波分光測定,SFG二次元マッピング測定


共焦点ラマン顕微鏡 (Confocal Raman Microscpope) (Nanofinder FLEX, Tokyo Instruments)

532 nm DPSS laser, 3D piezo scanner, Imaging spectrometer, CCD
Resolution; X-Y direction 〜300 nm, Z direction<1μm (x100 objective)
用途; Raman measurements, Raman imaging


フーリエ変換赤外分光光度計 (Fourier-transform IR spetctrometer, FT/IR-6600, JASCO)

構成;ATR(1回反射)測定アタッチメント, IRAS測定アタッチメント, 加熱用ATR測定アタッチメント
用途;赤外吸収スペクトル測定


デュヌイ表面張力計 (du Nouy surface tension meter, DRT-1, Surfgauge Instruments)

構成;デヌイ法張力計, シグマ光機自動ステージ
用途;液体の表面張力測定


自動接触角計 (Contact angle meter, SImage AUTO100, Excimer Inc.)

用途;静的接触角測定

グローブボックス(真空蒸着装置付属)
(Glove box with vacuum chamber, UN-
650L, Unico Inc.)

用途;有機薄膜の真空蒸着、マスク交換、
不活性ガス下での試料操作

自動ラビング処理装置 Automatic
rubbing system

(MRK-100を改造)

用途;高分子表面のラビング処理

オゾン洗浄器 UV-Ozone cleaner
(UV-Ozone Cleaner, Filgen UV253E)

用途;ガラス、樹脂基板などの 表面洗浄、
親水化処理、ポリマーなどの表面改質

プラズマ洗浄器 Plasma cleaner
(Parrick Plasma Cleaner PDC-32G)

用途;ガラス、樹脂基板などの 表面洗浄、
親水化処理、ポリマーなどの表面改質

小型卓上引張圧縮試験機
 (MCT-2150 A&D.)

用途;引張せん断強度、摩擦力の測定

可視紫外分光光度計 (V-730, JASCO)
UV-VIS spectrometer

用途;可視紫外吸収スペクトル測定

ブレードコートシステム (自作)
Automatic brade-coating system

有機半導体薄膜の作成

薄膜光学測定システム(SterllarNet Inc.)


有機半導体薄膜の膜厚・光学測定作成

3Dプリンタ ダヴィンチ 1.0 pro 
(3D printer, XYZ Printing)

帯電ガン(プラス極性、マイナス極性)

窒素ガス供給装置
コンプレッサー

ミクロトーム




・真空蒸着装置
・アッベ屈折計(アタゴ DR-A1)
・超純水製造装置(ミリポア、 Simplicity UV)
・定温乾燥器(東京理化、アズワン)
・顕微鏡冷却加熱装置(ジャパンハイテック製 LK-600PM)
・スピンコーター

・ソースメジャーユニット(Agilent, B2901A, B2901B, B2902A)
・レーザー変位計(キーエンス)
・デジタルストレージオシロスコープ
・デジタル遅延パルス発生器(SRS製 DG535、DG645)
・He-Neレーザー(シグマ光機 05-LHP-213, 1 mW)
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